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Product Center变温霍尔效应实验仪霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量,行半导体导电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。
馏实验仪实验目的: 1、熟悉馏单元操作过程的设备与流程。 2、了解板式塔结构与流体力学性能。 3、掌握馏塔的操作方法与原理。 4、学习馏塔效率的测定方法。
霍尔效应实验仪实验内容: 1、霍尔电压与霍尔电流的关系; 2、霍尔电压与励磁电流的关系; 3、电磁铁气隙处X方向磁场强度的分布; 4、电磁铁气隙处Y方向磁场强度的分布; 5、测量磁感应强度; 6、测量电磁铁铁芯的磁导率
稳态平板法测定热材料导热系数实验台术参数:稳态平板法是种应用维稳态导热过程的基本原理来测定材料导热系数的方法,可以用来行导热系数的测定试验,测定材料的导热系数及其与温度的关系;可测导热系数在:0.02~400 w/(m.k)的200×200×20何材料。
光纤光谱仪应用综合实验仪实验内容 1、利用反射光谱测定印刷品颜色; 2、利用透射光谱测定滤光片透过率; 3、利用等离子体光谱测定气体成分; 4、利用白光干涉测定薄膜厚度测量。