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Product Center表面形貌测量仪 /表面形貌测定仪
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产品分类表面形貌测量仪 /表面形貌测定仪 型号:DP-XM-200
• X方向采用滑动导轨作为水平移动的直线基准,导轨移动的距离采用度的光栅行计量;
• Z方向立柱也采用滑动导轨,并采用编码器行测量,由电机-滚珠丝杠系统驱动;
• 可行粗糙度和轮廓度的测量,可测量、驱动、计算、显示等,系统具有便携能,可单使用,灵活方便;
• 测量软件采用 Windows平台,采用内标准定义和评定,数学模型整;
• 具有调整作台可行 Y向及各种摆角调整,用户可根据需要自由选择,调整使用方便,能齐;
• 测量参数多,可行直线度、曲率偏差、双沟各种参数、平行差、度等参数的测量,并可对机械件的表面形貌如粗糙度等严格按照内标准行测量。
• 测量度,差动电感传感器测量灵敏性可达 0.01μm以内,X向光栅灵敏性达0.5μm以内,Z方向可行大量程度位移测量,度达4μm;
• 测量控制位多,不仅行传统的 Z方向小位移测量和X方向的位移测量,还可行Z方向的大位移测量;选用Y方向移动作台可以测量零件的三维表面型貌。
• 采用微机控制,可手动或自动循环测量、自动消除安装误差、自动行量程变换、直接显示所得形状及各种参数,并可打印输出,具有标准数据库存储数据。
件名称 | 内容 |
| 件名称 | 内容 |
X方向移动 |
| Z方向移动(立拄) |
| |
轮廓形状测量 |
| 附 件
| 水平、倾角、摆角调整 | |
粗糙度测量 |
| Y 向移动台(选购) 导轨类型 | 三维形貌测量用 | |
可测量参数 | GB3505规定所有轮廓、波纹度和粗糙度参数,曲率半径、沟中心距、锁口、凸度、 | |||
硬件配置 | DELL机、液晶显示器、打印机 | |||
测量软件 | windowsXP |
2.
陶瓷砖抗冻性试验机(陶瓷冻融试验箱)/陶瓷砖抗冻性测定仪 型号:DP-CLD
该仪器适用于测量陶瓷砖抗冻性的设备,仪器符合GB/3810.12-2006陶瓷砖抗冻性测定的要求。
、陶瓷砖抗冻性试验机主要参数
1、试验区作温度调节范围:-20℃—+20℃;
2、试验区:600×600×300(毫米);
3、控温度:±1℃;
5、试验方式:按设定试验次数自动循环成。
6、电源: 220V ±10% 2.5 kw;
二、陶瓷砖抗冻性试验机作条件
1、环境温度:0~40℃;
2、电源: 220V,50 HZ;
3、备有水水源、出水管道;
三、陶瓷砖抗冻性试验机组成
仪器由冷冻试验箱、排水系统、控温与自动控制系统三份组成。
本仪器的作原理是按GB/3810.12-2006家标准要求来实现的。
按试验要求将电子计数器设定好试验循环次数(100次)。将试样放入试验区内,盖好盖板。制冷使试验区冷冻至-5˚C,保持15分钟,打开水泵使水喷洒在试样上使试验温度上升至+5˚C,保持15分钟,计数器计数次,按试验要求将电子计数器设定好试验循环次数(100次)。自动按上述循环试验,试验后报警告示。
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